測試光耦繼電器好壞的方法
為了判斷光耦的好壞,可以在路上測量二極管和三極管的正負(fù)阻值。有三種更可靠的檢測方法。
1、比較方法
將故障光耦取出,用萬用表測量內(nèi)部二極管和三極管的正負(fù)阻值,并與光耦好的對應(yīng)引腳的測量值進(jìn)行比較.如果阻值相差很大,會損壞光耦。
2、數(shù)字萬用表的檢測方法
以EL817光耦檢測為例,說明了數(shù)字通配符檢測的方法。檢查時,將光耦二極管的+端子{1}引腳和-端子{2}引腳分別插入數(shù)字萬用表的hfec和e插孔。數(shù)字萬用表應(yīng)放在NPN擋板上。將光電耦合晶體管C端的{5}針連接到指針式萬用表的黑筆上,將e端的{4}針連接到紅筆上,將指針式萬用表撥到rx1k擋板上。這樣,光耦合的狀態(tài)就可以通過指針的偏轉(zhuǎn)角度來判斷,實際上就是光電流的變化。指針的右偏轉(zhuǎn)角越大,光耦的光電轉(zhuǎn)換效率越高,即傳輸比越高。相反,指針越低,光耦就會損壞。
3、光電效應(yīng)判斷方法
以檢測EL817光耦為例,檢測電路如圖2所示。將萬用表置于rx1k電阻上,將兩個表筆分別接在引腳{4}和{5}上光耦輸出,再接1.5V電池接50~100ω電阻,觀察接EL817腳{1}正極,負(fù)極接EL817腳{2},正極連接到引腳{1},觀察萬用表端子}和負(fù)極端子。如果指針移動,光耦合好,指針不擺動,光耦合差。萬用表指針擺動角度越大,光電轉(zhuǎn)換靈敏度越高。
光耦合器通過光傳輸電信號。它可以很好地隔離輸入和輸出電信號,因此被廣泛應(yīng)用于各種電路中。目前已成為應(yīng)用最廣泛的光電器件之一。光耦合器一般由三部分組成:光發(fā)射、光接收和信號放大。輸入的電信號驅(qū)動LED(發(fā)光二極管)發(fā)出一定波長的光,被光電探測器接收后產(chǎn)生光電流,進(jìn)一步擴大輸出。這樣就完成了電光轉(zhuǎn)換,起到輸入、輸出、隔離的作用。由于光耦合器的輸入輸出隔離,電信號的單向傳輸,使光耦合器具有良好的電絕緣性和抗干擾能力。因此,在信息的長期傳輸中,作為終端隔離元件,可以大大提高信噪比。作為計算機數(shù)字通信和實時控制中信號隔離的接口元件,可以大大提高計算機的可靠性。另外,光耦的輸入端為低阻元件,工作在電流模式,共模抑制能力強。
1、高共??刂票取?br />
在光耦合器中,由于LED與光接收器之間的耦合電容很?。ㄔ?pF以內(nèi)),因此共模輸入電壓對通過極間耦合電容的輸出電流的影響很小,因此模式控制率非常高。.
2、光耦輸出特性
光耦合器的輸出特性是指在一定的發(fā)光電流if下,光敏三極管中的偏置電壓VCE與輸出電流IC之間的關(guān)系。當(dāng)if=0時,LED不發(fā)光,光電三極管集電極的輸出電流稱為暗電流,一般較小。如果為0,則對應(yīng)的IC在某個If下基本獨立于VCE。用半導(dǎo)體晶體管的特性曲線測得的光耦合器的輸出特性與普通晶體管相似。
三個光耦合器可用作線性耦合器。
在發(fā)光二極管上提供偏置電流,信號電壓通過電阻連接到發(fā)光二極管。光信號隨著光電流的輸入或輸出而線性增加或減少。光耦也可以在通斷狀態(tài)下傳輸脈沖信號。傳輸脈沖信號時,輸入信號與輸出信號之間存在一定的延遲時間,不同結(jié)構(gòu)的光耦的輸入與輸出之間的延遲時間差異很大。
(1)在邏輯電路中的應(yīng)用。
光耦可以組成多種邏輯電路。由于光耦合器的抗干擾性能和隔離性能優(yōu)于晶體管,因此光耦合器組成的邏輯電路更加可靠。
(2)用作固態(tài)開關(guān)。
在開關(guān)電路中,控制電路和開關(guān)需要良好的電氣隔離,這對于一般的電子開關(guān)來說是很困難的,但是通過光耦很容易實現(xiàn)。
(3)在觸發(fā)電路中的應(yīng)用。
通過在雙穩(wěn)態(tài)輸出電路中使用光耦,可以將LED串聯(lián)到雙管發(fā)射極電路,有效解決輸出和負(fù)載隔離問題。
(4)在脈沖放大電路中的應(yīng)用。
光耦在數(shù)字電路中的應(yīng)用可以放大脈沖信號。
(5)在線電路中的應(yīng)用。
線性電路采用線性光耦,線性度高,電絕緣性能好。
(6)特殊場合的應(yīng)用。
光耦合器還可用于高壓控制、變壓器、觸點繼電器和模數(shù)轉(zhuǎn)換電路。